Oberflächenanalytik

Rasterelektronenmikroskop (REM)

Mit dem Rasterelektronenmikroskop (REM) werden fraktographische Untersuchungen an Brüchen oder im Labor geöffneten Rissflächen im Rahmen von Schadensfällen durchgeführt. Diese Untersuchungen sind zur Aufklärung der Schadensfälle unerlässlich. Durch die hohe Tiefenschärfe des Rasterelektronenmikroskops lassen sich sowohl unterschiedliche Bruchstrukturen, Bruchausgänge, Bruch- und Rissausbreitungsrichtungen ebenso darstellen, wie sich im Material gebildete Fremdphasen, Ausscheidungen und Korrosionsbeläge auf den Bruchflächen.

Energiedispersive Röntgenanalyse (EDX)

Die chemische Zusammensetzung dieser Phasen, Ausscheidungen und Beläge auf den Bruchflächen sowie Dünnfilmapplikationen, können mit der in das Rasterelektronemikroskop integrierten, energiedispersiven Röntgenanalyse (EDX) -qualitativ und quantitativ- bestimmt werden. Hierfür können je nach Fragestellung Flächen- und/oder Punkt- sowie Linienanalysen (sogenannten Linescans) durchgeführt werden. Die Darstellung in Form von Element-Verteilungsbildern - sogenannten Mappings - ist ebenfalls möglich.